个人简介：

闫爱斌，304永利集团官网入口304永利集团官网入口教授、博士生导师、所长。2015年获得304永利集团官网入口工学博士学位，2016年加入安徽大学计算机学院，担任博士生导师、芯片设计与测试研究所所长，2018年国家公派留学访问日本九州工业大学，2023年加入304永利集团官网入口304永利集团官网入口，受聘“黄山学者”优秀青年。入选安徽省杰出青年人才项目，入选美国斯坦福大学发布的2022年全球前2%顶尖科学家“年度影响力”榜单，在计算机硬件与系统结构领域为中国大陆211高校唯一的入选学者。

科研方面，长期从事宇航级存储芯片抗软错误设计、3D芯片硅通孔抗簇故障设计以及EDA领域的研究工作，面向“拥有自主知识产权的高可靠芯片研发与EDA技术”国家重大战略需求，研究了锁存器SRAM触发器等宇航级存储电路的抗软错误设计方法，研究了3D芯片硅通孔抗制造缺陷导致簇故障的容错设计方法，以及与集成电路设计配套的EDA工具。在本领域，以一作或通讯作者发表国际权威IEEE Trans期刊论文19篇、CCF/CAA-A类论文15篇，入选ESI高被引或热点论文6篇，合著出版英文专著1部，申请国家发明专利20项，授权9项，在国内外高水平学术会议上做大会报告30余次，获得了国内外同行专家的高度评价。

教学方面，获安徽省教学成果奖一等奖2项，获校级“三全育人”先进个人荣誉称号。指导学生获评“挑战杯”全国大学生课外学术科技作品竞赛三等奖1项、“挑战杯”安徽省大学生课外学术科技作品竞赛特等奖1项、第八届安徽大学“互联网+”创新创业大赛铜奖1项、安徽省计算机学会优秀硕士论文1人、省级优秀毕业生2人、校级三好学生标兵 1 人、校级优秀研究生标兵 5 人、研究生国家奖学金6人、国家级大学生创新创业计划项目优秀结题3项、省级大学生创新创业计划项目优秀结题2项。

其他方面，担任IEEE/CCF高级会员、教育部学位中心博士学位论文和留学生学位论文评审专家、安徽省科技厅高企评审会会评专家、CCF集成电路设计和容错计算专业委员会执行委员、第52届IEEE ISCAS分会场主席、第32届IEEE ATS Tutorial主席、第27届IEEE ATS宣传主席、第18届中国计算机大会可信芯片设计与测试论坛主席、第12届CCF启智会暨先进集成电路技术大会程序主席、第5届IEEE ITC-Asia分会场主席、众多IEEE Trans国际权威期刊审稿人，以及北大核心期刊《微电子学与计算机》首届青年编委、CCF推荐SCI期刊《Journal of Electronic Testing》编委（中国大陆唯二）。

研究方向：

宇航芯片抗辐射加固、集成电路软错误率计算、三维芯片硅通孔簇故障容忍、可信芯片设计与测试、量子电路设计技术、基于RRAM/MRAM/FeRAM的新型存储技术、机器学习与存算一体技术等。

开设课程（本科生、研究生）：

本科生课程《软件工程综合实践》、《数字逻辑课程设计》等
研究生课程《软件工程原理及应用》

科研项目：

1.在研主持国家自然科学基金国际（地区）合作与交流项目1项，国家自然科学基金面上项目1项，安徽省杰出青年人才项目1项，中科院计算所计算机系统结构国家重点实验室开放课题1项。
2.曾主持国家自然科学基金青年项目1项。

代表成果（著作、论文、专利等，限10项）：

1.Aibin Yan, Zhixing Li, Jie Cui, Zhengfeng Huang, Tianming Ni, Patrick Girard, and Xiaoqing Wen, Designs of Two Quadruple-Node-Upset Self-Recoverable Latches for Highly Robust Computing in Harsh Radiation Environments,IEEE Transactions on Aerospace and Electronic Systems, (2022刊出、CAA A类、中科院一区).
2.Aibin Yan, Zhixing Li, Jie Cui, Zhengfeng Huang, Tianming Ni, Patrick Girard, and Xiaoqing Wen, LDAVPM: A Latch Design and Algorithm-based Verification Protected against Multiple-Node-Upsets in Harsh Radiation Environments, IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, (2022在线发表、CCF A类).
3.Aibin Yan, Yuanjie Hu, Jie Cui, Zhili Chen, Zhengfeng Huang, Tianming Ni, Patrick Girard, and Xiaoqing Wen, Information Assurance through Redundant Design: A Novel TNU Error-Resilient Latch for Harsh Radiation Environment,IEEE Transactions on Computers, (2020刊出、CCF A类).
4.Aibin Yan, Zhengzheng Fan, Liang Ding, Jie Cui, Zhengfeng Huang, Qijun Wang, Hao Zheng, Patrick Girard, and Xiaoqing Wen, Cost-Effective and Highly Reliable Circuit-Components Design for Safety-Critical Applications, IEEE Transactions on Aerospace and Electronic Systems, (2022刊出、CAA A类、中科院一区).
5.Aibin Yan, Xiangfeng Feng, Yuanjie Hu, Chaoping Lai, Jie Cui, Zhili Chen, Kohei Miyase, and Xiaoqing Wen, Design of a Triple-Node-Upset Self-Recoverable Latch for Aerospace Applications in Harsh Radiation Environments, IEEE Transactions on Aerospace and Electronic Systems, (2020刊出、CAA A类、中科院一区).
6.Aibin Yan, Zhelong Xu, Kang Yang, Jie Cui, Zhengfeng Huang, Patrick Girard, and Xiaoqing Wen, A Novel Low-Cost TMR-Without-Voter Based HIS-Insensitive and MNU-Tolerant Latch Design for Aerospace Applications, IEEE Transactions on Aerospace and Electronic Systems, (2020刊出、CAA A类、中科院一区).
7.Aibin Yan, Yan Chen, Zhelong Xu, Zhili Chen, Jie Cui, Zhengfeng Huang, Patrick Girard, and Xiaoqing Wen, Design of Double-Upset Recoverable and Transient-Pulse Filterable Latches for Low Power and Low-Orbit Aerospace Applications, IEEE Transactions on Aerospace and Electronic Systems, (2020刊出、CAA A类、中科院一区).
8.Aibin Yan, Chaoping Lai, Yinlei Zhang, Jie Cui, Zhengfeng Huang, Jie Song, Jing Guo, and Xiaoqing Wen, Novel Low Cost, Double-and-Triple-Node-Upset-Tolerant Latch Designs for Nano-scale CMOS, IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing, (2021刊出、影响因子7.691).
9.Aibin Yan,Yan Chen, Yuanjie Hu, Jun Zhou, Tianming Ni, Jie Cui, Patrick Girard, and Xiaoqing Wen, Novel Speed-and-Power-Optimized SRAM Cell Designs with Enhanced Self-Recoverability from Single- and Double-Node Upsets, IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, (2020刊出、CAA A类).
10.Aibin Yan, Yafei Ling, Jie Cui, Zhili Chen, Zhengfeng Huang*, Jie Song, Patrick Girard, and Xiaoqing Wen, Quadruple Cross-Coupled Dual-Interlocked-Storage-Cells based Multiple-Node-Upset-Tolerant Latch Designs, IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, (2020刊出、CAA A类).

获奖荣誉：

获国际会议AsianHOST2022最佳论文奖、美国大湖国际会议GLSVLSI2022最佳论文提名奖、中国测试学术会议CTC2018最佳论文奖各1项；安徽省教学成果奖一等奖2项。

个人（实验室）主页：

http://ca.hfut.edu.cn/xyz